【简介：】一、电子元器件失效分析的标准？对失效电子元器件进行诊断过程。1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。2、失效分析的目的是确定失效模
一、电子元器件失效分析的标准？
对失效电子元器件进行诊断过程。
1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。
2、失效分析的目的是确定失效模式和失效机理，提出纠正措施，防止这种失效模式和失效机理的重复出现。
3、失效模式是指观察到的失效现象、失效形式，如开路、短路、参数漂移、功能失效等。
4、失效机理是指失效的物理化学过程，如疲劳、腐蚀和过应力等。
失效分析的一般程序
1、收集现场场数据
2、电测并确定失效模式
3、非破坏检查
4、打开封装
5、镜验
6、通电并进行失效定位
7、对失效部位进行物理、化学分析，确定失效机理。
8、综合分析，确定失效原因，提出纠正措施。
二、元器件的失效怎么分析判断？
所有的失效分析都是根据失效的情况列出可能的原因，然后通过调查分析（很多时候必须通过技术检测），逐一排除不可能是原因的项目。找到了最可能的原因后，予以确认。如果有可能的话，应该进行失效情况还原，但这必须注意安全，只有这样才能够做到结论明确，板上钉钉。期望能够帮到你。
三、请问一下半导体器件温度升高为什么会失效啊？
关键是任何半导体器件都存在一个最高工作温度，该温度由两个方面的因素来决定：
一是半导体本征化，二是器件性能劣化。任何型号的半导体在高温时都将转变为本征半导体——本征化，结果使得pn结消失；而现在几乎所有的器件都有pn结（MOS器件中也有源、漏pn结），因此高温时半导体器件会失效。对于某些半导体器件，在还没有出现由于半导体本征化而引起的失效时，器件性能就已经劣化到不能使用的程度了（例如反向电流大大增加），那么这时器件的最高工作温度还将有所降低。
四、微电子材料与器件专业，跟，电子元器件失效分析，哪个好?就业方向是什么？
个人补充建议:电子元器件失效分析偏重于国企,如果有门路,可以选择;否则就业面偏窄.还是结合家庭背景\针对性提升个人能力,没背景的话只能自己打拼了,选第一个可能更实际一些
