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电子元器件失效分析的标准?

作者:admin 发布时间: 2023-08-20 00:36:37

简介:】一、电子元器件失效分析的标准?对失效电子元器件进行诊断过程。1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。2、失效分析的目的是确定失效模

一、电子元器件失效分析的标准?

对失效电子元器件进行诊断过程。

1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。

2、失效分析的目的是确定失效模式和失效机理,提出纠正措施,防止这种失效模式和失效机理的重复出现。

3、失效模式是指观察到的失效现象、失效形式,如开路、短路、参数漂移、功能失效等。

4、失效机理是指失效的物理化学过程,如疲劳、腐蚀和过应力等。

失效分析的一般程序

1、收集现场场数据

2、电测并确定失效模式

3、非破坏检查

4、打开封装

5、镜验

6、通电并进行失效定位

7、对失效部位进行物理、化学分析,确定失效机理。

8、综合分析,确定失效原因,提出纠正措施。

二、元器件的失效怎么分析判断?

所有的失效分析都是根据失效的情况列出可能的原因,然后通过调查分析(很多时候必须通过技术检测),逐一排除不可能是原因的项目。找到了最可能的原因后,予以确认。如果有可能的话,应该进行失效情况还原,但这必须注意安全,只有这样才能够做到结论明确,板上钉钉。期望能够帮到你。

三、请问一下半导体器件温度升高为什么会失效啊?

关键是任何半导体器件都存在一个最高工作温度,该温度由两个方面的因素来决定:

一是半导体本征化,二是器件性能劣化。任何型号的半导体在高温时都将转变为本征半导体——本征化,结果使得pn结消失;而现在几乎所有的器件都有pn结(MOS器件中也有源、漏pn结),因此高温时半导体器件会失效。对于某些半导体器件,在还没有出现由于半导体本征化而引起的失效时,器件性能就已经劣化到不能使用的程度了(例如反向电流大大增加),那么这时器件的最高工作温度还将有所降低。

四、微电子材料与器件专业,跟,电子元器件失效分析,哪个好?就业方向是什么?

个人补充建议:电子元器件失效分析偏重于国企,如果有门路,可以选择;否则就业面偏窄.还是结合家庭背景\针对性提升个人能力,没背景的话只能自己打拼了,选第一个可能更实际一些

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